Бируков Евгений Александрович
магистрант, Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники,
Республика Беларусь, г. Минск
Статьи на сайте sibac.info
- ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ И ПРОБЛЕМЫ ОБОРУДОВАНИЯ ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
- ЗАДАЧИ ТЕПЛОВОГО КОНТРОЛЯ В ОБОРУДОВАНИИ ТЕСТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ И ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
- МЕТОД ТЕСТИРОВАНИЯ ИМС УЛЬТРАЗВУКОВЫМ ЛАЗЕРОМ
- МЕТОД ОБЕСПЕЧЕНИЯ СТАБИЛЬНОЙ РАБОТЫ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ДИФФЕРЕНИЦАЛЬНОГО КАСКАДА В ПРЕДЕЛЬНОМ РЕЖИМЕ ЭКСПЛУАТАЦИИ
- ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ МЕТОД ПОВЫШЕНИЯ СТАБИЛЬНОСТИ РАБОТЫ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ В ПРЕДЕЛЬНОМ РЕЖИМЕ ЭКСПЛУАТАЦИИ С НАНЕСЕНИЕМ ПОДСЛОЯ НИТРИДА КРЕМНИЯ
- МЕТОД КОНТРОЛЯ УРОВНЯ ЗАГРЯЗНЕНИЯ ПЛАСТИН ИОНАМИ ПРИ ПРОИЗВОДСТВЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ И ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
- ИСПОЛЬЗОВАНИЕ СЛОЯ НИТРИДА КРЕМНИЯ SI3N4 ДЛЯ СТАБИЛИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНОЙ МИКРОСХЕМЫ
