Телефон: 8-800-350-22-65
WhatsApp: 8-800-350-22-65
Telegram: sibac
Прием заявок круглосуточно
График работы офиса: с 9.00 до 18.00 Нск (5.00 - 14.00 Мск)

Статья опубликована в рамках: Научного журнала «Студенческий» № 22(192)

Рубрика журнала: Технические науки

Секция: Радиотехника, Электроника

Скачать книгу(-и): скачать журнал часть 1, скачать журнал часть 2, скачать журнал часть 3, скачать журнал часть 4, скачать журнал часть 5, скачать журнал часть 6, скачать журнал часть 7, скачать журнал часть 8, скачать журнал часть 9

Библиографическое описание:
Казьмин В.И. ТВЕРДОТЕЛЬНЫЙ ОДНОАТОМНЫЙ ОДНОЭЛЕКТРОННЫЙ ТРАНЗИСТОР // Студенческий: электрон. научн. журн. 2022. № 22(192). URL: https://sibac.info/journal/student/192/258270 (дата обращения: 14.05.2024).

ТВЕРДОТЕЛЬНЫЙ ОДНОАТОМНЫЙ ОДНОЭЛЕКТРОННЫЙ ТРАНЗИСТОР

Казьмин Василий Иванович

студент, кафедра Автоматизация производственных процессов, Донской Государственный Технический Университет,

РФ, г. Ростов-на-Дону

SOLID STATE SINGLE ATOMIC SINGLE ELECTRONIC TRANSISTOR

 

Vasilii Kazmin

student, Don State Technical University,

Russia, Rostov-on-Don

 

АННОТАЦИЯ

В статье рассматриваются основы реализации одноатомного транзистора.

ABSTRACT

The article discusses the basics of the implementation of a single-atom transistor.

 

Ключевые слова: атом, транзистор, устройства.

Keywords: atom, transistor, devices.

 

Сканирующий туннельный микроскоп может манипулировать отдельными атомами и молекулами на поверхности, но манипулирование кремнием для создания логических схем атомного масштаба было затруднено из-за ковалентной природы его связей. Стратегии, основанные на сопротивлении, позволили сформировать атомно-размерные структуры на кремниевой поверхности, но для создания устройств, таких как транзисторы, с чрезвычайно короткими длинами затвора, квантовые компьютеры и одиночные примесные оптоэлектронные устройства - требуется возможность позиционирования отдельных атомов в кремниевом кристалле с атомарной точностью. Здесь мы используем комбинацию сканирующей туннельной микроскопии и водород-резист литографии для демонстрации одноатомного транзистора, в котором отдельный легирующий атом фосфора, помещенный внутри архитектуры прибора эпитаксиального кремния, с пространственной точностью одного решетчатого участка.

Устройства, основанные на детерминированном размещении из одиночных легирующих примесей в кремнии, также являются ведущими кандидатами на твердотельные архитектуры квантовых вычислений, потому что примеси могут иметь чрезвычайно длительное время спиновой когерентности и спиновой релаксации, и поскольку такой подход был бы совместим с существующими дополнительными технология металл-оксид-полупроводник (КМОП).

Одно из самых ранних предложений для твердотельного квантового компьютера задействованные массивы одиночных P атомов в кристалле кремния, с двумя ядерными спиновыми состояниями, обеспечивающими основу для кванта бит (кубит). Впоследствии были предложены кубиты на основе спиновых состояний электронов или степени заряженности примесей в кремнии. Это привело к повышению интереса к измерению электронного спектра отдельных примесей в полевых транзисторах, где они вводятся путем низкоэнергетической имплантации или прямой диффузии от сильно легированных зон контакта. Однако, эти подходы ограничены точностью около 10 нм из-за расположения примесей и необходимости поместить отдельные атомы фосфора в кремний с атомарной точностью и регистрации электростатических элементов и считывания устройства для каждой отдельной примеси для практической реализации квантового вычислительного устройства на основе этого подхода. требует На рис. 1 показан подход, который использовали для точечного размещения одного атома фосфора между источником с высоким содержанием фосфора и стоком в плоском, стробированном, монокристаллическом кристалле кремния.

 

Рисунок 1. Одноатомный транзистор на основе детерминированного позиционирования атома фосфора в эпитаксиальном кремнии

 

На рис. «A» изображено перспективное СТМ изображение, в котором десорбированные водородом области, определяющие источник (S) и дренажные (D) выводы с двумя затворами (G1, G2) кажутся поднятыми из-за увеличения туннельного тока через кремниевые состояния оборванных связей, которые были созданы. При последующем дозировании с фосфином, эти зоны формируют сильно легированные фосфором копланарные транспортные электроды одноатомной высоты, которые зарегистрированы на один атом фосфора в центре устройства. Также видны несколько атомарных ступеней, проходящих по поверхности Si (100). «В» – крупный план внутренней области устройства (пунктирная рамка в a), где центральным ярким выступом является атом кремния, который выбрасывается, когда одиночный атом фосфора входит в поверхность. «C» – схема химической реакции для детерминированного включения одного атома фосфора в поверхность.

 

Список литературы:

  1. https://ru.wikipedia.org/wiki/:// (дата обращения 12.03.2022)
  2. https://quantum.msu.ru (дата обращения: 13.03.2022)

Оставить комментарий

Форма обратной связи о взаимодействии с сайтом
CAPTCHA
Этот вопрос задается для того, чтобы выяснить, являетесь ли Вы человеком или представляете из себя автоматическую спам-рассылку.